Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Biblioteka  Akademii Nauk Stosowanych w Gnieźnie Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaBiblioteka  Akademii Nauk Stosowanych w Gnieźnie

Wyszukujesz frazę "testing algorithms" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-10 z 10
    Tytuł:
    Genetic algorithms in pseudorandom testing of medical digitalcircuits
    Autorzy:
    Chodacki, M.
    Michalski, D.
    Data publikacji:
    2009
    Wydawca:
    Uniwersytet Śląski. Wydział Informatyki i Nauki o Materiałach. Instytut Informatyki. Zakład Systemów Komputerowych
    Tematy:
    algorytmy genetyczne
    urządzenia medyczne
    symulacja układów cyfrowych
    genetic algorithms
    medical devices
    simulation of digital circuits
    pseudorandom testing
    Pokaż więcej
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Szczegóły
    Tytuł:
    Surface casting defects inspection using vision system and neural network techniques
    Autorzy:
    Świłło, S. J.
    Perzyk, M.
    Data publikacji:
    2013
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    nondestructive testing
    machined aluminum die castings
    image processing algorithms
    vision system inspection
    neural network
    badanie nieniszczące
    odlewnictwo ciśnieniowe
    algorytm przetwarzania obrazu
    inspekcja wizyjna
    sieć neuronowa
    Pokaż więcej
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Szczegóły
    Tytuł:
    Two-level approach for solving the inverse problem of defects identification in Eddy Current Testing - type NDT
    Autorzy:
    Putek, P.
    Crevecoeur, G.
    Slodička, M.
    Gawrylczyk, K.M.
    Van Keer, R.
    Dupré, L.
    Data publikacji:
    2011
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    charakterystyka wad
    elektromagnetyczny problem odwrotny
    problem odwrotny
    algorytmy optymalizacji
    algorytmy dwupoziomowe
    badanie wiroprądowe
    analiza wrażliwości
    defect characterization
    electromagnetic inverse problem
    two level optimization algorithms
    eddy current testing method
    sensitivity analysis
    Pokaż więcej
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Szczegóły
    Tytuł:
    Two-level approach for solving the inverse problem of defects identification in Eddy Current Testing - type NDT
    Autorzy:
    Putek, P.
    Crevecoeur, G.
    Slodička, M.
    Gawrylczyk, K. M.
    Van Keer, R.
    Dupré, L.
    Data publikacji:
    2011
    Słowa kluczowe:
    charakterystyka wad
    elektromagnetyczny problem odwrotny
    problem odwrotny
    algorytmy optymalizacji
    algorytmy dwupoziomowe
    badanie wiroprądowe
    analiza wrażliwości
    defect characterization
    electromagnetic inverse problem
    two level optimization algorithms
    eddy current testing method
    sensitivity analysis
    Pokaż więcej
    Dostawca treści:
    BazTech
    Artykuł
    Szczegóły
      Wyświetlanie 1-10 z 10

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies