Wszystkie pola: X-Ray diffraction

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Rozwój zastosowań rentgenowskiej analizy dyfrakcyjnej
Autorzy:: Krztoń, H.
Dobrzański, J.
Smolec, B.
Marczak, Z.
Zieliński, A.
Łapczyński, Z.
Głowacki, P.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: zastosowanie
analiza dyfrakcyjna
X-ray diffraction analysis
development; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Badanie struktury spienionego PE-LD metodą dyfrakcji rentgenowskiej
Autorzy:: Rozpłoch, A.
Królikowski, B.
Dzwonkowski, J.
Patyk, J.
Data publikacji:: 2002
Słowa kluczowe:: dyfrakcja rentgenowska
polietylen
spienianie
X-ray diffraction
polyethylene
foaming; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Zastosowanie dyfraktometrii rentgenowskiej w badaniach mikrobiologicznej korozji metali
Application of X-ray diffraction for studies on microbially induced metal corrosion
Autorzy:: Hryniszyn, A.
Cwalina, B.
Data publikacji:: 2015
Wydawca:: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Przemysłu Chemicznego. Zakład Wydawniczy CHEMPRESS-SITPChem
Tematy:: dyfraktometria rentgenowska (XRD)
mikrobiologiczna korozja metali
metody mikrobiologiczne
metody molekularne
X-ray diffraction (XRD)
microbially induced metal
microbiological methods
methods of molecular; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Some aspects of estimation of the crystallinity of gamma radiation wood cellulose by ftir spectroscopy and X-ray diffraction techniques
Autorzy:: Kasprzyk, Henryk
Współwytwórcy:: Szentner, Kinga
Data publikacji:: 2004
Tematy:: Drewno; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Otrzymywanie i właściwości modyfikowanych nanoporowatych adorbentów krzemionkowych
Autorzy:: Choma, J.
Jaroniec, M.
Data publikacji:: 2003
Słowa kluczowe:: modified ordered mesoporous silica
nitrogen adsorption
X-ray diffraction
thermogravimetry; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Otrzymywanie i właściwości modyfikowanych nanoporowatych adorbentów krzemionkowych
Synthesis and properties of modified nanoporous siliceous adsorbents
Autorzy:: Choma, J.
Jaroniec, M.
Data publikacji:: 2003
Wydawca:: Polskie Zrzeszenie Inżynierów i Techników Sanitarnych
Tematy:: modified ordered mesoporous silica
nitrogen adsorption
X-ray diffraction
thermogravimetry; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Dyfrakcja promieniowania rentgenowskiego - metoda proszkowa - użyteczna technika badania związków chemicznych
Autorzy:: Tadeusiak, E. J.
Data publikacji:: 2004
Słowa kluczowe:: dyfrakcja promieniowania rentgenowskiego
metoda proszkowa
XRPD
X-ray diffraction
powder method; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Przystosowanie procedur badawczych, stosowanych w metodzie dyfrakcji rentgenowskiej, do nowych norm europejskich
Autorzy:: Krztoń, H.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: dyfrakcja rentgenowska
norma
procedura badawcza
X-ray diffraction
norm
research procedure; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Osadzanie warstw SiC na podłożach krzemowych metodą sputteringu
Autorzy:: Stańczyk, B.
Jagoda, A.
Dobrzański, L.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: SiC
sputtering
dyfrakcja rentgenowska
warstwy polikrystaliczne
X-ray diffraction
polycrystaline layers; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Research of pigments in historic paintings using XRD methods.
Badanie pigmentów w zabytkowych obrazach metodą XRD
Autorzy:: Bednarz, Marta
Słowa kluczowe:: Dyfraktometria proszkowa; XRD; XRPD; Henryk Siemiradzki; Zaprawy malarskie; Pigmenty.
X-ray diffraction (XRD; X-Ray powder diffraction XRPD; ground layers; pigments; Henryk Siemiradzki.; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Szczegóły

Informacja

Wyszukujesz frazę "X-Ray diffraction" wg kryterium: Wszystkie pola