- Tytuł:
- Investigation of flat-band voltage distributions over the gate area of Al.-SiO2-Si structures
- Autorzy:
-
Piskorski, K.
Przewłocki, H. M. - Data publikacji:
- 2010
- Słowa kluczowe:
-
napięcie wyprostowanych pasm w półprzewodniku
struktura MOS
flat-band voltage
MOS structure - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech