- Tytuł:
- Inkrementacyjne sekwencje adresowe o niskim narzucie sprzętowym w dwuprzebiegowych testach krokowych
- Autorzy:
-
Mrozek, I.
Yarmolik, S. V. - Data publikacji:
- 2012
- Słowa kluczowe:
-
testowanie pamięci RAM
testy krokowe
BIST
uszkodzenia PSF
RAM testing
multiple run march test
march tests
pattern sensitive faults (PSF) - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł