Temat: Scanning Electron Microscopy (SEM)

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Modelowanie numeryczne przepływu elektronów w warunkach niskiej próżni
Autorzy:: Krzysztof, M.
Słówko, W.
Data publikacji:: 2007
Słowa kluczowe:: Monte Carlo
VP SEM
variable pressure scanning electron microscopy (VP SEM); Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Synthesis, chemical characterization and antifungal activity of thin layers prepared by sol-gel method
Autorzy:: Nocun, M.
Zontek, J.
Kwasny, S.
Data publikacji:: 2012
Słowa kluczowe:: antifungal thin layer
sol-gel method
scanning electron microscopy (SEM)
X-ray photoelectron spectroscopy (XPS); Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Ocena wpływu zewnętrznych pól magnetycznych i elektromagnetycznych na działanie skaningowego mikroskopu elektronowego
Autorzy:: Płuska, M.
Oskwarek, Ł.
Data publikacji:: 2007
Słowa kluczowe:: mikroskopia elektronowa
skaningowy mikroskop elektronowy
zakłócenia elektromagnetyczne
indukcja magnetyczna
scanning electron microscopy (SEM)
electromagnetic distortions
magnetic induction; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Ocena wpływu zewnętrznych pól magnetycznych i elektromagnetycznych na działanie skaningowego mikroskopu elektronowego
Estimation of external magnetic and electromagnetic fields influence on Scanning Electron Microscope operation
Autorzy:: Płuska, M.
Oskwarek, Ł.
Data publikacji:: 2007
Wydawca:: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:: mikroskopia elektronowa
skaningowy mikroskop elektronowy
zakłócenia elektromagnetyczne
indukcja magnetyczna
scanning electron microscopy (SEM)
electromagnetic distortions
magnetic induction; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Algorytm cyfrowej korekcji głębi ostrości w elektronowej mikroskopii skaningowej
Autorzy:: Bużantowicz, M.
Bużantowicz, W.
Data publikacji:: 2014
Słowa kluczowe:: korekcja głębi ostrości
cyfrowe przetwarzanie obrazu
skaningowa mikroskopia elektronowa
focus stacking
digital image processing (DIP)
scanning electron microscopy (SEM); Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Detektor scyntylacyjny elektronów do skaningowego mikroskopu elektronowego umożliwiający obrazowanie płynnej wody
Autorzy:: Słówko, W.
Krysztof, M.
Data publikacji:: 2009
Słowa kluczowe:: VP SEM
detekcja elektronów wtórnych
variable pressure scanning electron microscopy (VP SEM)
secondary electron detection; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Charakterystyka fotoutwardzalnych żywic akrylowych do zastosowań w przemyśle drzewnym
Characteristics of photocurable acrylic resins for use in wood industry
Autorzy:: Jurczyk-Kowalska, Magdalena
Płocińska, Magdalena
Choińska, Emilia
Zagórski, Andrzej
Data publikacji:: 2019
Wydawca:: Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Chemii Przemysłowej
Tematy:: polimery akrylowe
właściwości termiczne
skaningowa mikroskopia elektronowa SEM
lepkość
utwardzanie promieniowaniem UV
acrylic polymers
thermal properties
scanning electron microscopy SEM
viscosity
UV-curing; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Charakterystyka fotoutwardzalnych żywic akrylowych do zastosowań w przemyśle drzewnym
Autorzy:: Jurczyk-Kowalska, Magdalena
Płocińska, Magdalena
Choińska, Emilia
Zagórski, Andrzej
Data publikacji:: 2019
Słowa kluczowe:: polimery akrylowe
właściwości termiczne
skaningowa mikroskopia elektronowa SEM
lepkość
utwardzanie promieniowaniem UV
acrylic polymers
thermal properties
scanning electron microscopy SEM
viscosity
UV-curing; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Wykorzystanie systemu mikroanalizy rentgenowskiej (EDS) do oceny stanu powłok przeciwzużyciowych poddanych tarciu
Autorzy:: Piekoszewski, W.
Tuszyński, W.
Data publikacji:: 1999
Słowa kluczowe:: SEM
EDS
skaningowa mikroskopia elektronowa (SEM)
spektrometria z dyspersją energii (EDS)
powłoka przeciwzużyciowa
obszar wzbudzenia promieniowania X
scanning electron microscopy (SEM)
energy dispersive spectrometry (EDS)
antiwear layer
electron beam penetration depth; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Modelowanie numeryczne rozpływu elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym o zmiennym ciśnieniu
Autorzy:: Krysztof, M.
Słówko, W.
Data publikacji:: 2009
Słowa kluczowe:: symulacje Monte Carlo
VP SEM
detekcja elektronów wtórnych
Monte Carlo simulation
variable pressure scanning electron microscopy (VP SEM)
secondary electron detection; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Informacja

Wyszukujesz frazę "Scanning Electron Microscopy (SEM)" wg kryterium: Temat