- Tytuł:
- Wykorzystanie fluorescencyjnego spektrometru rentgenowskiego (XRF) w analizie elementów elektronicznych i płytek drukowanych na zgodność z dyrektywą RoHS
- Autorzy:
- Kościelski, M.
- Data publikacji:
- 2009
- Słowa kluczowe:
-
pomiary XRF
rentgenowska spektroskopia fluorescencyjna
zgodność z RoHS
XRF measurements
X-ray fluorescence spectroscopy
RoHS compaliance - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech