Temat: electron probe microanalysis

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Wpływ Ceram Bondu na charakter połączenia metal-ceramika
The influence of Ceram Bond on the character of the metal-ceramic joint
Autorzy:: Hajduga, M.
Zdziech, T.
Data publikacji:: 2010
Wydawca:: Politechnika Śląska. Katedra Biomechatroniki
Tematy:: materiał ceramiczny
Ceram Bond
połączenia metal-ceramika
mikroanaliza rentgenowska
ceramic material
metal-ceramic joints
electron probe microanalysis; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Wpływ Ceram Bondu na charakter połączenia metal-ceramika
Autorzy:: Hajduga, M.
Zdziech, T.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: materiał ceramiczny
Ceram Bond
połączenia metal-ceramika
mikroanaliza rentgenowska
ceramic material
metal-ceramic joints
electron probe microanalysis; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Charakter połączenia faz metal - ceramika w obecności opakera
Bonding characteristics of metal-opaque-ceramic
Autorzy:: Hajduga, M.
Danel, D.
Data publikacji:: 2010
Wydawca:: Politechnika Śląska. Katedra Biomechatroniki
Tematy:: połączenia metal-ceramika
opaker
porcelana
badanie metalograficzne
badanie mikroskopowe
mikroanaliza rentgenowska
metal-ceramic joints
opaque
porcelain
metallographic study
microscopic study
electron probe microanalysis; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Charakter połączenia faz metal - ceramika w obecności opakera
Autorzy:: Hajduga, M.
Danel, D.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: połączenia metal-ceramika
opaker
porcelana
badanie metalograficzne
badanie mikroskopowe
mikroanaliza rentgenowska
metal-ceramic joints
opaque
porcelain
metallographic study
microscopic study
electron probe microanalysis; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Mikrowiązkowe metody badań materiałów.
Autorzy:: Żelechower, M.
Data publikacji:: 2001
Słowa kluczowe:: metody mikrowiązkowe
aparatura badawcza wykorzystująca mikrowiązki
transmisyjna mikroskopia elektronowa
analityczna mikroskopia elektronowa
skaningowa mikroskopia elektronowa
mikroanaliza rentgenowska
spektroskopia masowa jonów wtórnych wzbudzanych zogniskowaną wiązką jonową
microbeam analysis
microbeam instrumentation
transmission electron microscopy
analytical electron microscopy
scanning electron microscopy
electron probe microanalysis
focused ion beam secondary ion mass spectroscopy; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Materiały Elektroniczne 1987 nr 2(58)
Metody ilościowej mikroanalizy rent5geowskiej cienkich warstw na podłożach = Correction methods in quantitative electron probe X-ray microanalysis of thin coatings
Metody ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej cienkich warstw na podłożach
Autorzy:: Sikorski Krzysztof
Współwytwórcy:: Szummer Andrzej
Data publikacji:: 1987
Wydawca:: Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Słowa kluczowe:: thin layer
Elektronika - czasopismo - materiały
Materiały elektroniczne
Electronic materials
thin layer technology
electron probe X-ray microanalysis
warstwa cienka
mikroanaliza rentgenowska
Electronic - journal - material; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Informacja