Temat: fluorescence technique

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Badanie biegłości w laboratoriach chemicznych polskich urzędów probierczych w programie Round Robin
Proficiency testing in chemical laboratories of Polish assay offices at the Round Robin program
Autorzy:: Górkiewicz-Malina, Aleksandra
Kowalówka, Paweł
Data publikacji:: 2021
Wydawca:: Główny Urząd Miar
Tematy:: badania biegłości
stopy jubilerskie
technika spektrometrii fluorescencji rentgenowskiej
proficiency testing
jewelery alloys
X-ray fluorescence spectrometry technique; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Badanie biegłości w laboratoriach chemicznych polskich urzędów probierczych w programie Round Robin
Autorzy:: Górkiewicz-Malina, Aleksandra
Kowalówka, Paweł
Data publikacji:: 2021
Słowa kluczowe:: badania biegłości
stopy jubilerskie
technika spektrometrii fluorescencji rentgenowskiej
proficiency testing
jewelery alloys
X-ray fluorescence spectrometry technique; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Diagnosis of bovine brucellosis using traditional serological techniques and fluorescence polarisation assay
Autorzy:: Weiner M.
Iwaniak W.
Zlotnicka J.
Szulowski K.
Tematy:: diagnosis
bovine brucellosis
brucellosis
serological technique
fluorescence polarization assay
serum plate agglutination test
complement fixation test
ELISA test
cattle
animal disease
Brucella; Pokaż więcej
Dostawca treści:: AGRO

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Adsorption of proteins on the surface of polymers with different tactics
Adsorpcja białek na powierzchni polimerów o różnej taktyczności
Autorzy:: Grzegorczyk, Karolina
Słowa kluczowe:: adsorpcja białek, taktyczność polimeru, PtBMA, technika spin-castingu, mikroskopia fluorescencyjna, geometria całkowa, mikroskopia sił atomowych AFM, spektroskopia fotoelektronów XPS, spektrometria jonów wtórnych TOF-SIMS, analiza głównych składowych PCA
protein adsorption, polymer tacticity, PtBMA, spin-casting technique, fluorescence microscopy, integral geometry, atomic force microscopy AFM, photoelectron spectroscopy XPS, secondary ion spectrometry TOF-SIMS, analysis of main PCA components; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

Szczegóły

Informacja