Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "leaf architecture" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Wykorzystanie miernika LAI-2000 do niedestrukcyjnego pomiaru parametrów roślin pszenicy jarej
Use of the LAI-2000 meter to non-destructive measurement of spring wheat plant parameters
Autorzy:
Biskupski A.
Wlodek S.
Pabin J.
Kaus A.
Tematy:
architektura lanu
indeks powierzchni lisci
nawozenie azotem
plonowanie
Porejestrowe Doswiadczalnictwo Odmianowe
prognozowanie
pszenica jara
wartosc technologiczna
ziarno
canopy architecture
leaf area index
nitrogen fertilization
yielding
post-registration cultivar testing
prognosis
spring wheat
technological value
grain
Pokaż więcej
Dostawca treści:
AGRO
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies