- Tytuł:
- Ocena stanu organicznych powłok ochronnych w skali mikro za pomocą mikroskopu sił atomowych
- Autorzy:
-
Szociński, M.
Darowicki, K. - Data publikacji:
- 2011
- Słowa kluczowe:
-
powłoki organiczne
degradacja
mikroskopia sił atomowych
lokalna charakterystyka zniszczeń
organic coatings
degradation
atomic force microscopy (AFM)
local characterization of degradation - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł