Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "quantitative microscopy" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-9 z 9
Tytuł:
Ilościowa charakterystyka mikrostruktury betonu w diagnostyce powierzchniowych uszkodzeń posadzki przemysłowej
Autorzy:
Glinicki, Michał A.
Jóźwiak-Niedźwiedzka, Daria
Brandt, Andrzej M.
Dziedzic, Kinga
Data publikacji:
2024
Słowa kluczowe:
delaminacja
mikroskopia ilościowa
porowatość
posadzka betonowa
utwardzanie powierzchniowe
delamination
quantitative microscopy
porosity
concrete floor
surface hardening
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
Tytuł:
Diagnostyka przedwczesnych uszkodzeń betonowych posadzek przemysłowych utwardzanych powierzchniowo
Autorzy:
Glinicki, Michał A.
Jóźwiak-Niedźwiedzka, Daria
Brandt, Andrzej M.
Data publikacji:
2023
Słowa kluczowe:
beton
delaminacja
mikroskopia ilościowa
porowatość
posadzka przemysłowa
pylenie
utwardzanie powierzchniowe
concrete
delamination
quantitative microscopy
porosity
industrial floor
dusting
surface hardening
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
Tytuł:
Badanie morfologii komórek śródbłonka zatok wątroby przy wykorzystaniu mikroskopii sił atomowych i mikroskopii fluorescencyjnej
Investigation of the morphology of the liver sinusoidal endothelial cells (LSECs) by atomic force microscopy (AFM) and fluorescent miscoscopy
Autorzy:
Szafrańska, Karolina
Słowa kluczowe:
LSEC; fenestracje; obrazowanie AFM; mapowanie siłowe; obrazowanie kwantytatywne; mikroskopia fluorescencyjna
LSEC; fenestrations; AFM imaging; force mapping; quantitative imaging; fluorescent microscopy
Pokaż więcej
Dostawca treści:
Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego
Inne
Tytuł:
Podstawy ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej w analitycznej mikroskopii elektronowej
Prace ITME 1992 z. 37
Podstawy ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej w analitycznej mikroskopii elektronowej = Principles for quantitative X-ray micoanalysis in the analytical electron microscopy
Autorzy:
Paduch Józef
Współwytwórcy:
Wojtas Jerzy
Barszcz, Edward
Barszcz Edward
Data publikacji:
1992
Wydawca:
Wydaw. Przem. "WEMA"
Słowa kluczowe:
Elektronika - czasopismo - materiały
mikroskopia elektronowa
Materiały elektroniczne
quantitative X-ray microanalysis
analytical electron microscopy
Electronic materials
microanalysis
Electronic - journal - material
ilościowa mikroanaliza rentgenowska
Pokaż więcej
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
    Wyświetlanie 1-9 z 9

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies