- Tytuł:
- Intelligent measuring system for characterization of defect centres in semi-insulating materials by photoinduced transient spectroscopy
- Współwytwórcy:
-
Kamiński, Paweł
Kozłowski, Roman
Pawłowski, Michał (elektronika)
Jankowski, Stanisław (elektronika)
Wierzbowski, Mariusz - Data publikacji:
- 2005
- Dostawca treści:
- Academica