Temat: spektroskopia sił atomowych (AFM)

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "spektroskopia sił atomowych (AFM)" wg kryterium: Temat

Wyświetlanie 1-7 z 7

Zaznacz

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Effect of solution concentration on optical and morphological properties of gallium nitride thin films
Współwytwórcy:: Al-Haddithi, Asmit R. Autor
Aziz, Wisam J. Autor
Ali, E.S. Autor
Data publikacji:: 2021
Tematy:: Mikroskopia sił atomowych (AFM)
Azotek galu
Spektroskopia Ramana
Fotoluminescencja
Właściwości optyczne
Krystalografia rentgenowska
Spektroskopia UV/VIS
Piroliza
Cienkie warstwy (technika); Pokaż więcej
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: XPS and UPS valence band studies of nanocrystalline Ni-Ti alloy thin films
Współwytwórcy:: Dawczak-Dębicki, H. Autor
Werwiński, Mirosław. Autor
Smardz, Lesław. Autor
Majchrzycki, Łukasz. Autor
Marczyńska, Agnieszka (fizyk). Autor
Szajek, Andrzej. Autor
Skoryna, Juliusz. Autor
Pacanowski, Sebastian. Autor
Data publikacji:: 2018
Tematy:: Mikroskopia sił atomowych (AFM)
Nanokryształy
Struktura elektronowa
Spektroskopia fotoelektronów w zakresie promieniowania X
Stopy (materiałoznawstwo)
Cienkie warstwy (technika)
Spektroskopia fotoelektronów w zakresie promieniowania nadfioletowego; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Exchange coupling effects in naturally oxidised ultrathin iron film
Współwytwórcy:: Dawczak-Dębicki, H. Autor
Smardz, Lesław. Autor
Nowicki, Marek (fizyka techniczna). Autor
Marczyńska, Agnieszka (fizyk). Autor
Wachowiak, Mateusz. Autor
Jabłoński, B. (fizyk). Autor
Rogowska, A. Autor
Pacanowski, Sebastian. Autor
Czajka, Ryszard (1953- ). Autor
Data publikacji:: 2018
Tematy:: Mikroskopia sił atomowych (AFM)
Oddziaływanie wymiany
Żelazo
Spektroskopia fotoelektronów w zakresie promieniowania X
Napylanie w polu magnetycznym
Cienkie warstwy (technika); Pokaż więcej
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Fractal features and structural, morphological, optical characteristics of sol-gel derived silica nanoparticled thin films
Autorzy:: Uysal, Bengü Özuğur. Autor
Współwytwórcy:: Pekcan, Önder M. Autor
Data publikacji:: 2018
Tematy:: Mikroskopia sił atomowych (AFM)
Krzemionka
Nanomateriały
Spektroskopia UV/VIS
Budowa wewnętrzna substancji
Właściwości optyczne
Cienkie warstwy (technika)
Metoda zol-żel; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Interlayer exchange coupling in Nb/Fe multilayers
Współwytwórcy:: Smardz, Lesław. Autor
Majchrzycki, Łukasz. Autor
Pugaczowa-Michalska, Maria. Autor
Marczyńska, Agnieszka (fizyk). Autor
Szymański, Bogdan (fizyk). Autor
Data publikacji:: 2018
Tematy:: Mikroskopia sił atomowych (AFM)
Oddziaływanie wymiany
Niob
Teoria funkcjonału gęstości (DFT)
Materiały wielowarstwowe
Żelazo
Spektroskopia fotoelektronów w zakresie promieniowania X
Napylanie w polu magnetycznym; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Preparation of high-performance room temperature ZnO nanostructures gas sensor
Współwytwórcy:: Mikhlif, Haitham M. Autor
Dawood, Mohammed O. Autor
Mejbel, Mohanad K. Autor
Abdulmunem, Oday M. Autor
Data publikacji:: 2021
Tematy:: Mikroskopia sił atomowych (AFM)
Tlenek cynku
Mikrostruktura
Czujniki gazów
Krystalografia rentgenowska
Spektroskopia UV/VIS
Nanomateriały
Fizyczne osadzanie z fazy gazowej (PVD)
Skaningowa mikroskopia elektronowa; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Preparation and characterisation of Fe/Ce multilayer
Współwytwórcy:: Dawczak-Dębicki, H. Autor
Bilski, T. Autor
Grembowski, W. Autor
Smardz, Lesław. Autor
Majchrzycki, Łukasz. Autor
Kowalski, Wojciech (fizyk). Autor
Marczyńska, Agnieszka (fizyk). Autor
Szymański, Bogdan (fizyk). Autor
Pacanowski, Sebastian. Autor
Data publikacji:: 2018
Tematy:: Mikroskopia sił atomowych (AFM)
Żelazo
Materiały wielowarstwowe
Spektroskopia fotoelektronów w zakresie promieniowania X
Napylanie w polu magnetycznym
Budowa wewnętrzna substancji
Właściwości fizyczne
Cer
Krystalografia rentgenowska; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Wyświetlanie 1-7 z 7

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Wyszukujesz frazę "spektroskopia sił atomowych (AFM)" wg kryterium: Temat