- Tytuł:
- Mechanical modelling of thin films. Stress evolution, degradation, characterization
- Autorzy:
- Białas, M.
- Data publikacji:
- 2012
- Wydawca:
- IPPT PAN
- Dostawca treści:
- RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.