Wszystkie pola: structural parameters

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Analiza możliwości zastosowania wysokorozdzielczej dyfraktomaterii rentgenowskiej do badań parametrów strukturalnych warstw epitaksjalnych i supersieci
Materiały Elektroniczne 1994 T.22 nr 4
Analiza możliwości zastosowania wysokorozdzielczej dyfraktomaterii rentgenowskiej do badań parametrów strukturalnych warstw epitaksjalnych i supersieci = The possibility of application of high resolution x-ray diffraction for determination the structural parameters of epilayers and superlattices
Autorzy:: Sass Jerzy
Data publikacji:: 1994
Wydawca:: ITME
Słowa kluczowe:: warstwa epitaksjalna
HR XRD
epitaxial layer
supersieć półprzewodnikowa
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
Electronic - journal - materials
superlattice
Elektronika - czasopismo - materiały; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Proceedings of ONPMP 1975 nr 5
Wpływ wybranych zanieczyszczeń metalicznych na niektóre parametry elektryczne i perfekcję strukturalną krzemowych warstw epitaksjalnych = Influence of selected metallic contamination impurities on some electrical parameters and structural perfection of silicon epitaxial layers
Wpływ wybranych zanieczyszczeń metalicznych na niektóre parametry elektryczne i perfekcję strukturalną krzemowych warstw epitaksjalnych
Prace ONPMP 1975 nr 5
Autorzy:: Wiraszka Marek
Współwytwórcy:: Schab Krzysztof
Data publikacji:: 1975
Wydawca:: Wydaw. Przem. Masz. "WEMA"
Słowa kluczowe:: Elektronika - czasopismo - materiały
perfekcja strukturalna
metallic impurity
Materiały elektroniczne
zanieczyszczenie niemetaliczne
Si epitaxial layer
Electronic materials
parametr elektroniczny
electrical parameter
krzemowa kwarstwa epitaksjalna
Electronic - journal - material; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Informacja