- Tytuł:
- Redox characterization of semiconductors based on electrochemical measurements combined with UV-Vis diffuse reflectance spectroscopy
- Autorzy:
-
Derdzińska, Justyna
Macyk, Wojciech
Świętek, Elżbieta
Szaciłowski, Konrad
Pilarczyk, Kacper - Data publikacji:
- 2013
- Dostawca treści:
- Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego