- Tytuł:
- Effect of sample rotation on surface roughness with keV $C_{60}$bombardment in secondary ion mass spectrometry (SIMS) experiments
- Autorzy:
-
Postawa, Zbigniew
Garrison, Barbara J. - Data publikacji:
- 2011
- Dostawca treści:
- Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego