Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Biblioteka  Akademii Nauk Stosowanych w Gnieźnie Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaBiblioteka  Akademii Nauk Stosowanych w Gnieźnie

Wyszukujesz frazę "thin sensor" wg kryterium: Wszystkie pola

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-2 z 2
    Tytuł:
    Determination of stress in thin bismuth layers on flexible polymer substrate with use of optical interferometry
    Wyznaczanie naprężeń w cienkich warstwach bizmutu na giętkim podłożu polimerowym z użyciem interferometrii optycznej
    Autorzy:
    Horeglad, Piotr
    Słowa kluczowe:
    odkształcenie, deformacja, naprężenie, czujnik optyczny, siatka dyfrakcyjna, litografia, DLIP, litografia interferencyjna, LabVIEW
    strain, stress, optical strain sensor, optical strain gauge, diffraction grating, lithography, DLIP, interference lithography, LabVIEW
    Pokaż więcej
    Dostawca treści:
    Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego
    Inne
    Szczegóły
      Wyświetlanie 1-2 z 2

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies