Temat: non-contact atomic force microscopy

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "non-contact atomic force microscopy" wg kryterium: Temat

Wyświetlanie 1-4 z 4

Zaznacz

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Non-contact AFM investigation of influence of freezing process on the surface structure of potato starch granule
Autorzy:: Szymoński, Marek
Tomasik, P.
Szymońska, J.
Krok, Franciszek
Data publikacji:: 2000
Słowa kluczowe:: starch structure modification
Non-contact Atomic Force Microscopy
starch surface structure; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Non-contact atomic force microscopy studies of (2 × 4) InP(0 0 1) surface
Autorzy:: Kołodziej, Jacek
Krok, Franciszek
Such, Bartosz
Szymoński, Marek
Piątkowski, Piotr
Data publikacji:: 2006
Słowa kluczowe:: surface reconstruction
atomic surface structure
III-V semiconductors
indium phosphide
InP
non-contact atomic force microscopy, NCAFM; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: SPM imaging of trinaphthylenemolecular states on a hydrogen passivated Ge(001) surface
Autorzy:: Joachim, Christian
Godlewski, Szymon
Kolmer, Marek
Saeys, Mark
Szymoński, Marek
Kawai, Hiroyo
Echavarren, Antonio M.
Leon, Claudia De
Such, Bartosz
Mendoza, Paula de
Data publikacji:: 2013
Wydawca:: Springer
Słowa kluczowe:: scanning tunneling microscopy
hydrogen passivated germanium Ge(001): H
molecular state imaging
heptastarphene molecules
electronic decoupling of molecules on surfaces
non-contact atomic force microscopy; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Nano-scale modification of ionic surfaces induced by electronic transitions
Autorzy:: Czuba, P.
Kołodziej, Jacek
Krok, Franciszek
Such, Bartosz
Struski, P.
Szymoński, Marek
Piątkowski, Piotr
Data publikacji:: 2001
Słowa kluczowe:: radiation damage
surface modification
non-contact atomic force microscopy (NC-AFM)
surface structure, morphology, roughness, and topography
thin films
alkali halides
Frenkel defects
electron- and photon-stimulated desorption (PSD, ESD); Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Artykuł

na półce

Szczegóły

Wyświetlanie 1-4 z 4

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Wyszukujesz frazę "non-contact atomic force microscopy" wg kryterium: Temat