- Tytuł:
- Imaging of defects on Ge(001):H by non-contact atomic force microscopy
- Autorzy:
-
Godlewski, Szymon
Kolmer, Marek
Lis, Jakub
Szymoński, Marek
Such, Bartosz
Wojtaszek, Mateusz
Budzioch, Janusz - Data publikacji:
- 2015
- Wydawca:
- Springer
- Słowa kluczowe:
-
surface defect
NC-AFM
Ge(001) - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego
Inne