- Tytuł:
-
Mikroskopia sił atomowych - nowa jakość pomiarów
Atomic force microscopy - new quality of measurements - Autorzy:
-
Rozniatowski K.
Rebis J. A. - Tematy:
-
mikroskopia sil atomowych
nanostruktury
pomiary
sonary skanujace
modyfikacja
dokladnosc pomiaru
mikroskop sil atomowych
mikroskop Veeco - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- AGRO