Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Kim S.-C" wg kryterium: Wszystkie pola


Tytuł:
Characteristics of TlBr single crystals grown using the vertical Bridgman-Stockbarger method for semiconductor-based radiation detector applications
Autorzy:
Kim, D. J.
Oh, J.-H
Kim, H. S.
Kim, Y. S.
Jeong, M.
Kang, C. G.
Jo, W. J.
Choi, H.
Kim, J. G.
Lee, S. H.
Ha, J. H
Data publikacji:
2016
Słowa kluczowe:
semiconductor single crystal
TlBr
radiation detection
crystalline quality
impurity
resistivity
optical band gap
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies