Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Piasecki Piotr" wg kryterium: Wszystkie pola


Wyświetlanie 1-4 z 4
Tytuł:
A method of magnetic field measurement in a scanning electron microscope using a microcantilever magnetometer
Autorzy:
Orłowska, Karolina
Mognaschi, Maria E.
Kwoka, Krzysztof
Piasecki, Tomasz
Kunicki, Piotr
Sierakowski, Andrzej
Majstrzyk, Wojciech
Podgórni, Arkadiusz
Pruchnik, Bartosz
di Barba, Paolo
Gotszalk, Teodor
Data publikacji:
2020
Słowa kluczowe:
scanning electron microscope
magnetometry
microcantilever
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
Tytuł:
Educational scanning tunneling microscope – open architecture platform for nanotechnology teaching and nanometrology research
Autorzy:
Pruchnik, Bartosz
Sikora, Andrzej
Gajewski, Krzysztof
Świadkowski, Bartosz
Smagowski, Piotr
Badura, Dominik
Kwoka, Krzysztof
Piasecki, Tomasz
Gotszalk, Teodor
Data publikacji:
2024
Słowa kluczowe:
scanning probe microscopy
scanning tunnelling microscopy
nanometrology
signal electronic
mikroskopia bliskich oddziaływań
skaningowa mikroskopia tunelowa
nanometrologia
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
    Wyświetlanie 1-4 z 4

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies