Wszystkie pola: flip-flop-T

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Techniki zmniejszania poboru mocy wykorzystywane podczas wbudowanego samotestowania
Autorzy:: Puczko, M.
Murashko, I.
Data publikacji:: 2006
Słowa kluczowe:: niski pobór mocy
test-per-clock
wbudowane samotestowanie
przerzutnik -T-D
low power
flip-flop-T-D
BIST; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Metody obniżania poboru mocy podczas testowania wewnątrzukładowego
Autorzy:: Puczko, M.
Data publikacji:: 2009
Słowa kluczowe:: niski pobór mocy
test-per-clock
BIST
przerzutnik -T
przerzutnik D
low power BIST
flip-flop-T
flip-flop-D; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Zmniejszanie poboru mocy w samotestujących układach cyfrowych
Autorzy:: Puczko, M.
Murashko, I.
Yarmolik, S. V.
Data publikacji:: 2007
Słowa kluczowe:: niski pobór mocy
test-per-clock
wbudowane samotestowanie
przerzutnik -T
przerzutnik D
low power BIST
flip-flop-T-D
BIST; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: On the use of multi-signature analysis for interconnect test
Autorzy:: Garbolino, T.
Kopeć, M.
Gucwa, K.
Hławiczka, A.
Data publikacji:: 2006
Słowa kluczowe:: testowanie połączeń
wykrywanie
lokalizacja i identyfikacja uszkodzeń
kompakcja odpowiedzi testowej
rejestr MISR
analiza wielosygnaturowa
testowanie układu z jego nominalną częstotliwością pracy
metoda testowania typu „test-per-clock”
interconnect test
fault detection
fault localization
fault identification
test response compaction
MISR
signature
multisignature analysis
at-speed testing
test-per-clock testing scheme
T-type flip-flop; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: All-Optical Techniques Enabling Packet Switching with Label Processing and Label Rewriting
Autorzy:: Jung, H.
Llorente, J. H.
Tangdiongga, E.
Koonen, T.
Dorren, H.
Data publikacji:: 2009
Słowa kluczowe:: label processor
optical flip-flop memory
optical packet switching
optical signal processing
wavelength converter; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Flip-flop behaviors in triple-fold spin transitions and the large magnetoresistance in the magnet Ca3(Co1-xMx)2O6(M:metal)
Autorzy:: Luo, J.
Yamada, K.
Honda, Z.
Tayama, T.
Sakakibara, T.
Ohsugi, I.J.
Data publikacji:: 2006
Słowa kluczowe:: degeneracja potrójnego spinu
negatywna magnetorezystancja
system sfrustrowany
prawie-jeden wymiar
spin triple-fold degeneracy
negative magnetoresistance
frustrated system
quasi-one dimensions; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Informacja