Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "specification driven testing" wg kryterium: Wszystkie pola


Wyświetlanie 1-4 z 4
Tytuł:
Analog circuits specification driven testing by the means of digital stream and non-linear estimation model optimized evolutionarily
Autorzy:
Golonek, T.
Chruszczyk, Ł.
Data publikacji:
2020
Słowa kluczowe:
analog electronic circuits
specification driven testing
evolutionary computations
multiple regression
obwód elektroniczny analogowy
test oparty na specyfikacji
obliczenia ewolucyjne
regresja wielokrotna
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
Tytuł:
Testowanie funkcjonalne analogowych układów elektronicznych z wykorzystaniem aproksymacji specyfikacji w przestrzeni cech odpowiedzi układu testowanego
Autorzy:
Jantos, P.
Golonek, T.
Rutkowski, J.
Data publikacji:
2011
Słowa kluczowe:
triangulacja Delaunaya
testowanie funkcjonalne
analogowy układ elektroniczny
sztuczna sieć neuronowa
elektrotechnika
elektroenergetyka
Delaunay's triangulation
specification driven test
analogue electronic circuits
neural classifier
electrical technology
electrical power engineering
Pokaż więcej
Dostawca treści:
BazTech
Artykuł
    Wyświetlanie 1-4 z 4

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies