Autor: Brzozowski, Ernest - Prolib Integro

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Ocena technologii montażu tranzystorów IGBT w obudowie TO-220 przez testy trwałości
Autorzy:: Brzozowski, Ernest
Sadowski, Oskar
Górecki, Paweł
Górecki, Krzysztof
Kisiel, Ryszard
Guziewicz, Marek
Data publikacji:: 2021
Słowa kluczowe:: montaż mikroelektroniczny
spiekanie
tranzystor IGBT
test trwałości
assembly
micro-Ag sintering
IGBT
reliability test; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Wpływ procesów utleniania i wygrzewania w atmosferze zawieraj ˛acej fosfor lub azot na jakos´c mi ˛ ´ edzypowierzchni dielektryk/półprzewodnik w strukturze MOS Ti/SiO2/4H-SiC
Autorzy:: Kamiński, Maciej
Brzozowski, Ernest
Taube, Andrzej
Sadowski, Oskar
Król, Krystian
Guziewicz, Marek
Data publikacji:: 2021
Słowa kluczowe:: SiC
stan powierzchniowy
dielektryk bramkowy
międzypowierzchnia dielektryk/półprzewodnik
POCl3
NO
surface state
gate dielectrics
semiconductor/dielectric interface; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Informacja