Temat: STANDARDIZATION OF MEASUREMENT

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: System chińskich miar i wag
Autorzy:: Kraszewski, A. J.
Data publikacji:: 2015
Słowa kluczowe:: system miar chiński
ujednolicenie systemu miar
historia
chinese measurement system
standardization of the measurement system
history; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Zakresy znaczeniowe terminów: "dokładność" i "precyzja"
Autorzy:: Włodek, J. J.
Data publikacji:: 2011
Słowa kluczowe:: normalizacja
metrologia
dokładność pomiaru
precyzja pomiaru
normy polskie
standardization
metrology
measurement accuracy
precision of measurement
Polish standard; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Normalizacja pomiarów struktury geometrycznej powierzchni. Cz. 2. Ocena zarysów okrągłości (nowe ujęcie).
Autorzy:: Adamczak, S.
Data publikacji:: 2003
Słowa kluczowe:: struktura geometryczna powierzchni
pomiar
normalizacja
zarys okrągłości
geometric structure of surface
measurement
standardization
roughness; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Normalizacja pomiarów struktury geometrycznej powierzchni. Cz. 1. Ocena zarysów okrągłości (ujęcie tradycyjne).
Autorzy:: Adamczak, S.
Data publikacji:: 2003
Słowa kluczowe:: struktura geometryczna powierzchni
pomiar
zarys okrągłości
normalizacja
geometric structure of surface
measurement
outline of roundness
standardization; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Normalizacja pomiarów struktury geometrycznej powierzchni. Cz. 6. Ocena zarysu płaskości
Autorzy:: Adamczak, S.
Data publikacji:: 2004
Słowa kluczowe:: normalizacja
pomiar
struktura geometryczna powierzchni
zarys płaskości
standardization
measurement
geometric structure of surface
flatness; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Normalizacja pomiarów struktury geometrycznej powierzchni. Cz. 7. Ocena chropowatości i falistości powierzchni. Informacje podstawowe
Autorzy:: Adamczak, S.
Data publikacji:: 2005
Słowa kluczowe:: struktura geometryczna powierzchni
pomiar
normalizacja
falistość powierzchni
chropowatość powierzchni
geometric structure of surface
measurement
standardization
waviness of surface
roughness; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Standaryzacja badań termograficznych w medycynie i fizykoterapii
Autorzy:: Bauer, J.
Dereń, E.
Data publikacji:: 2014
Słowa kluczowe:: termografia
zastosowania medyczne
zasady pomiarów termowizyjnych
wymogi pomiarowe
procedura pomiarowa
standaryzacja badań
standardy
normalizacja
wiarygodność
termoregulacja
thermography
medical applications
principles of infrared thermal imaging
measurement requirements
measurement procedure
measurement standardization
standards
normalization
reliability
thermoregulation; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Normalizacja pomiarów struktury geometrycznej powierzchni. Cz. 8. Ocena chropowatości i falistości. Powierzchnie o warstwowych właściwościach funkcjonalnych
Autorzy:: Adamczak, S.
Data publikacji:: 2005
Słowa kluczowe:: normalizacja
pomiar
struktura geometryczna powierzchni
chropowatość powierzchni
falistość powierzchni
właściwości funkcjonalne
standardization
measurement
geometric structure of surface
surface roughness
surface texture
functional properties; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Inwentaryzacja pomiarowo-rysunkowa zabytków architektury drewnianej w procesie konserwatorskim – problemy i propozycja standaryzacji
Autorzy:: Prarat, M.
Schaaf, U.
Data publikacji:: 2015
Słowa kluczowe:: inwentaryzacja pomiarowo-rysunkowa
zabytki architektury drewnianej
architektura wiejska
standaryzacja dokumentacji konserwatorskiej
tachimetria
fotoplan
skanowanie laserowe
measurement and drawing inventory
wooden architecture monuments
rural architecture
standardization of renovation records
tachymetry
photoplan
laser scanner; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Informacja