Temat: defect depth - Prolib Integro

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Ocena wpływu błędu określania emisyjności powierzchni na błąd wyznaczania głębokości defektu z zastosowaniem termografii aktywnej i sztucznej sieci neuronowej
Autorzy:: Dudzik, S.
Data publikacji:: 2013
Słowa kluczowe:: termografia aktywna
sieć neuronowa
wyznaczanie głębokości defektu
active thermography
artificial neural network
defect depth estimation; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Dwuetapowy algorytm wyznaczania głębokości defektów z zastosowaniem aktywnej termografii dynamicznej
Autorzy:: Dudzik, S.
Minkina, W.
Data publikacji:: 2013
Słowa kluczowe:: aktywna termografia dynamiczna
sieci neuronowe
wyznaczanie głębokości defektu
active thermography
neural networks
defect depth estimation; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Use Of Pulsed IR Thermography For Determination Of Size And Depth Of Subsurface Defect Taking Into Account The Shape Of Its Cross-Section Area
Autorzy:: Wysocka-Fotek, O.
Maj, M.
Oliferuk, W.
Data publikacji:: 2015
Słowa kluczowe:: pulsed IR thermography
defect size
defect depth
cross-section shape of defect
termografia impulsowa w podczerwieni
rozmiar defektu
głębokość defektu
kształt przekroju poprzecznego defektu; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Impact of probe configuration on cracks depth resolution in pulsed eddy current non-destructive evaluation
Autorzy:: Michniaková, M.
Janoušek, L.
Smetana, M.
Data publikacji:: 2012
Słowa kluczowe:: pulsed eddy currents
probe configuration
response signal
depth of defect
prądy wirowe
defektoskopia
szczeliny; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: In-depth and in-plane profiling of light emission properties from semiconductor-based heterostructures
Autorzy:: Godlewski, M.
Wojtowicz, T.
Goldys, E. M.
Phillips, M. R.
Czernecki, R.
Prystawko, P.
Leszczynski, M.
Perlin, P.
Grzegory, I.
Porowski, S.
Bottcher, T.
Figge, S.
Hommel, D.
Data publikacji:: 2004
Słowa kluczowe:: semiconductors
heterostructures
cathodoluminescence
depth profiling
defect distribution
laser emission analysis; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Joint Formation and Mechanical Properties of 2060 Aluminum Alloy Refill Friction Stir Spot Welding Joint
Autorzy:: Shang, Zhen
Zuo, Yingying
Ji, Shude
Wang, Yue
Chai, Peng
Data publikacji:: 2021
Słowa kluczowe:: refill friction stir spot welding
2060 aluminum alloys
plunge depth
defect characteristics
mechanical properties; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Informacja