- Tytuł:
- Measurement of basic observation parameters of optoelectronic devices in an accredited laboratory. Measurement methodology, uncertainty analysis
- Autorzy:
-
Bareła, Jarosław
Kastek, Mariusz
Firmanty, Krzysztof - Data publikacji:
- 2019
- Słowa kluczowe:
-
optoelectronic metrology
measurements of parameters of IR cameras
uncertainty analysis - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł