Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Biblioteka  Akademii Nauk Stosowanych w Gnieźnie Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaBiblioteka  Akademii Nauk Stosowanych w Gnieźnie

Wyszukujesz frazę "quantitative electron microscopy" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-4 z 4
    Tytuł:
    Przyczynek do ilościowej mikroskopii elektronowej faz dyspersyjnych w stopach metali
    Autorzy:
    Wiencek, K.
    Data publikacji:
    2002
    Słowa kluczowe:
    ilościowa mikroskopia elektronowa
    fazy dyspersyjne
    stopy metali
    stereologiczna metoda oceny średniej średnicy kulistych cząstek
    pomiar
    cienka folia
    transmisyjna mikroskopia elektronowa
    quantitative electron microscopy
    dispersed phases
    metal alloys
    stereological method for estimation of the mean particle size
    measurement
    thin foil
    transmission electron microscopy
    Pokaż więcej
    Dostawca treści:
    BazTech
    Artykuł
    Szczegóły
    Tytuł:
    Evaluation of the Possibility of Applying Spatial 3D Imaging Using X-Ray Computed Tomography Reconstruction Methods for Quantitative Analysis of Multiphase Materials
    Autorzy:
    Matysik, P.
    Chojnacki, M.
    Jóźwiak, S.
    Czujko, T.
    Lipiński, S.
    Data publikacji:
    2015
    Słowa kluczowe:
    computed tomography
    electron microscopy
    X-ray diffraction
    stereology
    phase analysis
    quantitative research
    tomografia komputerowa
    mikroskopia elektronowa
    dyfrakcja rentgenowska
    stereologia
    analiza fazy
    badania ilościowe
    Pokaż więcej
    Dostawca treści:
    BazTech
    Artykuł
    Szczegóły
    Tytuł:
    Wykorzystanie metod analizy obrazu w mikroskopii.
    Autorzy:
    Szala, J.
    Data publikacji:
    1999
    Słowa kluczowe:
    analiza obrazu
    mikroskopia
    metalografia ilościowa
    metalografia
    metody morfologii matematycznej
    technika światła spolaryzowanego
    skład chemiczny
    orientacja krystalograficzna
    mikroskop skaningowy
    image analysis
    microscopy
    quantitative metallography
    metallography
    mathematical morphology methods
    polarised light technique
    chemical composition
    crystallographic orientation
    scanning electron microscope
    Pokaż więcej
    Dostawca treści:
    BazTech
    Artykuł
    Szczegóły
    Tytuł:
    Quantitative characterization of surface topography in scanning electron microscopy.
    Autorzy:
    Słówko, W.
    Drzazga, W.
    Klubiński, G.
    Data publikacji:
    2002
    Słowa kluczowe:
    badania ilościowe
    topografia powierzchni
    skaningowy mikroskop elektronowy
    wielokanałowy układ detekcyjny
    kierunkowa detekcja elektronów wtórnych
    przetwarzanie uzyskanego sygnału
    wysokość
    nachylenie
    quantitative characterization
    surface topography
    scanning electron microscopy
    multichannel system
    directional detection of secondary electrons
    processing of the signal
    height
    side slopes
    Pokaż więcej
    Dostawca treści:
    BazTech
    Artykuł
    Szczegóły
      Wyświetlanie 1-4 z 4

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies