- Tytuł:
-
Charakteryzacja warstw epitaksjalnych z tellurku kadmowo-rtęciowego (Hg1-XCdXTe) za pomocą wykonanych fotodiod
Characterization of mercury cadmium telluride (Hg1-XCdXTe) epitaxial layers using the manufactured photodiodes - Autorzy:
- Królicka, A.
- Data publikacji:
- 2011
- Wydawca:
- Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
- Tematy:
-
epitaksja
MOCYD
detektor podczerwieni
fotodetektor
fotodioda
epitaxy
MOCVD
infrared detector
photodetector
photodiode - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł