Temat: testing sensitivity

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Design and research on artificial neural networks as electrical power system development models based on IEEE RTS data
Autorzy:: Tchórzewski, J.
Pytel, M.
Data publikacji:: 2015
Wydawca:: Politechnika Poznańska. Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej
Tematy:: artificial neural network
IEEE RTS data
electrical power system
MATLAB and Simulink environment
testing sensitivity
simulation studies; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Correction of the parametric model of the Day-Ahead Market system using the Artificial Neural Network
Autorzy:: Marlęga, Radosław
Data publikacji:: 2022
Wydawca:: Uniwersytet Przyrodniczo-Humanistyczny w Siedlcach
Tematy:: artificial neural network
day-ahead market
modeling
simulation
comparative research
model sensitivity testing; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Dynamic tilt testing of MEMS inclinometers based on conical motions
Autorzy:: Yang, Qihang
Cai, Chenguang
Yang, Ming
Kong, Ming
Liu, Zhihua
Liang, Feng
Data publikacji:: 2023
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: MEMS inclinometer
sensitivity
dynamic testing
conical motion
angle drift; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Sensitivity of electrical equipment to voltage sags and short interruptions : recommendations for testing
Autorzy:: Djokic, S.
Milanovic, J. V.
Data publikacji:: 2005
Wydawca:: Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie
Tematy:: power quality
voltage sags
short interruptions
sensitivity of equipment
testing of equipment; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Construction of an Expert System Based on Fuzzy Logic for Diagnosis of Analog Electronic Circuits
Autorzy:: Grzechca, D. E.
Data publikacji:: 2015
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: analog circuits fault diagnosis
analog system testing
fuzzy set theory
expert system
sensitivity analysis; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Testing Time Optimization Technique for IEEE 802.15.4z Ultra-Wideband Integrated Circuits
Autorzy:: Tsaturyan, Grigor
Gomtsyan, Hovhannes
Data publikacji:: 2024
Wydawca:: Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy
Tematy:: interframe spacing
packet generation
RF circuit testing
sensitivity measurements
test time reduction
UWB; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Influence of Filler Surface Modification on Static and Dynamic Mechanical Responses of Rice Husk Reinforced Linear Low-Density Polyethylene Composites
Autorzy:: Omar, Mohd Firdaus
Al Bakri Abdullah, Mohd Mustafa
Ting, Sam Sung
Jeż, Bartłomiej
Nabiałek, Marcin
Md Akil, Hazizan
Zulkepli, Nik Noriman
Abd Rahim, Shayfull Zamree
Azmi, Azida
Data publikacji:: 2022
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: silane coupling agents
strain rate
universal testing machine
split Hopkinson pressure bar
strain rate sensitivity; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Testing metals in tension and relaxation at elevated temperatures
Autorzy:: Darrieulat, M.
Aoufi, A.
Desrayaud, CH.
Data publikacji:: 2023
Wydawca:: Instytut Podstawowych Problemów Techniki PAN
Tematy:: tension testing
viscoplasticity
work hardening
engineering strain
extensometer
relaxation test
strain rate sensitivity
elevated temperature; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Przyspieszone badania degradacji przy stałym naprężeniu w analizie diod superelektroluminescencyjnych i wrażliwości parametrycznej
Constant stress adt for superluminescent diode and parameter sensitivity analysis
Autorzy:: Li, X.
Jiang, T.
Sun, F.
Ma, J.
Data publikacji:: 2010
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
Tematy:: analiza wrażliwościowa
ruchy Browna
obniżenie charakterystyk
badania przyspieszone
SLD
sensitivity analysis
Brownian motion
performance degradation
accelerated testing; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Two-level approach for solving the inverse problem of defects identification in Eddy Current Testing - type NDT
Autorzy:: Putek, P.
Crevecoeur, G.
Slodička, M.
Gawrylczyk, K.M.
Van Keer, R.
Dupré, L.
Data publikacji:: 2011
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: charakterystyka wad
elektromagnetyczny problem odwrotny
problem odwrotny
algorytmy optymalizacji
algorytmy dwupoziomowe
badanie wiroprądowe
analiza wrażliwości
defect characterization
electromagnetic inverse problem
two level optimization algorithms
eddy current testing method
sensitivity analysis; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Informacja

Wyszukujesz frazę "testing sensitivity" wg kryterium: Temat