Temat: quantitative electron microscopy

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Przyczynek do ilościowej mikroskopii elektronowej faz dyspersyjnych w stopach metali
Autorzy:: Wiencek, K.
Data publikacji:: 2002
Słowa kluczowe:: ilościowa mikroskopia elektronowa
fazy dyspersyjne
stopy metali
stereologiczna metoda oceny średniej średnicy kulistych cząstek
pomiar
cienka folia
transmisyjna mikroskopia elektronowa
quantitative electron microscopy
dispersed phases
metal alloys
stereological method for estimation of the mean particle size
measurement
thin foil
transmission electron microscopy; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Quantitative, qualitative and topographic distribution of lead, zinc, iron and copper in hard teeth tissues
Ilościowe, jakościowe i topograficzne rozłożenie ołowiu, cynku, żelaza i miedzi w twardych tkankach zębów
Autorzy:: Knychalska-Karwan Z.
Pawlicki R.
Karwan T.
Tematy:: quantitative evaluation
qualitative evaluation
topographical distribution
lead
zinc
iron
copper
tooth tissue
X-ray microanalysis
scanning electron microscopy; Pokaż więcej
Dostawca treści:: AGRO

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Evaluation of the Possibility of Applying Spatial 3D Imaging Using X-Ray Computed Tomography Reconstruction Methods for Quantitative Analysis of Multiphase Materials
Rentgenowska analiza ilościowa materiałów wielofazowych z wykorzystaniem przestrzennego obrazowania (3D) przy użyciu metod rekonstrukcji tomografii komputerowej
Autorzy:: Matysik, P.
Chojnacki, M.
Jóźwiak, S.
Czujko, T.
Lipiński, S.
Data publikacji:: 2015
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: computed tomography
electron microscopy
X-ray diffraction
stereology
phase analysis
quantitative research
tomografia komputerowa
mikroskopia elektronowa
dyfrakcja rentgenowska
stereologia
analiza fazy
badania ilościowe; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Evaluation of the Possibility of Applying Spatial 3D Imaging Using X-Ray Computed Tomography Reconstruction Methods for Quantitative Analysis of Multiphase Materials
Autorzy:: Matysik, P.
Chojnacki, M.
Jóźwiak, S.
Czujko, T.
Lipiński, S.
Data publikacji:: 2015
Słowa kluczowe:: computed tomography
electron microscopy
X-ray diffraction
stereology
phase analysis
quantitative research
tomografia komputerowa
mikroskopia elektronowa
dyfrakcja rentgenowska
stereologia
analiza fazy
badania ilościowe; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Podstawy ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej w analitycznej mikroskopii elektronowej
Prace ITME 1992 z. 37
Podstawy ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej w analitycznej mikroskopii elektronowej = Principles for quantitative X-ray micoanalysis in the analytical electron microscopy
Autorzy:: Paduch Józef
Współwytwórcy:: Wojtas Jerzy
Barszcz, Edward
Barszcz Edward
Data publikacji:: 1992
Wydawca:: Wydaw. Przem. "WEMA"
Słowa kluczowe:: Elektronika - czasopismo - materiały
mikroskopia elektronowa
Materiały elektroniczne
quantitative X-ray microanalysis
analytical electron microscopy
Electronic materials
microanalysis
Electronic - journal - material
ilościowa mikroanaliza rentgenowska; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Wykorzystanie metod analizy obrazu w mikroskopii.
Autorzy:: Szala, J.
Data publikacji:: 1999
Słowa kluczowe:: analiza obrazu
mikroskopia
metalografia ilościowa
metalografia
metody morfologii matematycznej
technika światła spolaryzowanego
skład chemiczny
orientacja krystalograficzna
mikroskop skaningowy
image analysis
microscopy
quantitative metallography
metallography
mathematical morphology methods
polarised light technique
chemical composition
crystallographic orientation
scanning electron microscope; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Quantitative characterization of surface topography in scanning electron microscopy.
Autorzy:: Słówko, W.
Drzazga, W.
Klubiński, G.
Data publikacji:: 2002
Słowa kluczowe:: badania ilościowe
topografia powierzchni
skaningowy mikroskop elektronowy
wielokanałowy układ detekcyjny
kierunkowa detekcja elektronów wtórnych
przetwarzanie uzyskanego sygnału
wysokość
nachylenie
quantitative characterization
surface topography
scanning electron microscopy
multichannel system
directional detection of secondary electrons
processing of the signal
height
side slopes; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Informacja