Wszystkie pola: scanning electron microscopy;

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Scanning electron microscope observation on androgenesis from barley (Hordeum vulgare L.) anthers in vitro.
Obserwacje w skaningowym mikroskopie elektronowym nad androgenezą jęczmienia (Hordeum vulgare L.)
Autorzy:: Prylińska, Marta
Słowa kluczowe:: Hordeum vulgare L., jęczmień, androgeneza, skaningowa mikroskopia elekronowa
Hordeum vulgare L., barley, androgenesis, scanning electron microscopy,; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Electrospinned nanofibers of fibroin - preparation and characterization.
Elektroprzędzone nanowłókna z fibroiny-otrzymywanie i charakterystyka
Autorzy:: Januszek, Mateusz
Słowa kluczowe:: Jedwab; Jedwabnik; Elektroprzędzenie; Fibroina; Włókna; Skaningowa mikroskopia elektronowa
Silk; Silkmoth; Electrospinning; Fibroin; Fibres; Scanning Electron Microscopy;; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Characteristics of sulphate aerosols in Cracow
Charakterystyka aerozoli siarczanowych w Krakowie
Autorzy:: Skotnicki, Tomasz
Słowa kluczowe:: aerozole siarczanowe, zanieczyszczenia powietrza, Kraków, skaningowa mikroskopia elektronowa, mikroanaliza
sulfate aerosols, air pollutants, Cracow, , scanning electron microscopy, microanalysis; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Evaluation of changes in mouse aortic morphology by microscopic methods
Ocena zmian morfologii aorty mysiej metodami mikroskopowymi
Autorzy:: Trubas, Aleksandra
Słowa kluczowe:: mice aorta, scanning electron microscopy, atomic force microscopy, fluorescence microscopy
aorta mysia, skaningowa mikroskopia elektronowa, mikroskopia sił atomowych, mikroskopia fluorescencyjna; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Badanie cienkich warstw i zabytkowych powłok metali metodą mikrodyfrakcji i dyfrakcji stałokątowej
Researches of thin layers and antique metal coating using microdiffraction and grazing incidence diffraction
Autorzy:: Latosińska, Anna
Słowa kluczowe:: microdiffraction, grazing incidence diffraction, X−ray diffraction (XRD), X-ray fluorescence (XRF), scanning electron microscopy
mikrodyfrakcja, dyfrakcja stałokątowa, dyfrakcja promieni rentgenowskich, flluorescencja rentgenowska, skaningowa mikroskopia elektronowa; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: The issue of oxidative stress observed in selected cereal grains genotypes in environmental protection aspect.
Zagadnienie stresu oksydacyjnego obserwowanego w ziarnach wybranych zbóż w aspekcie ochrony środowiska.
Autorzy:: Pasierb, Gabriela
Słowa kluczowe:: oat grains, Raman microspectroscopy, X-ray diffraction, scanning electron microscopy, oxidative stress - drought
ziarna owsa, mikrospektroskopia Ramana, dyfrakcja promieni rentgenowskich, skaningowa mikroskopia elektronowa, stres oksydacyjny - susza; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Phase analysis of bottom ash from municipal waste incineration in Cracow
Analiza fazowa produktów spalania odpadów komunalnych w Krakowie
Autorzy:: Rębiś, Aleksandra
Słowa kluczowe:: municipal waste, slags, thermal waste treatment, glass, wollastonite, X-Ray Diffraction (XRD), scanning electron microscopy (SEM)
odpady komunalne, żużle, termiczne przetwarzanie odpadów, szkliwo, wollastonit, dyfrakcja rentgenowska (XRD), skaningowa mikroskopia elektronowa (SEM); Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Studium właściwości chemicznych cząstek po wystrzale z pistoletu maszynowego dla potrzeb ekspertyzy sądowej
A study of chemical properties of gunshot residue originating from machine pistol for forensic purposes
Autorzy:: Bodnar, Viktoriia
Słowa kluczowe:: Forensic chemistry, gunshot residue (GSR), metallic particles, Scanning Electron Microscopy and Energy-Dispersive X-Ray Spectrometry (SEM-EDX).
Chemia sądowa, ślady powystrzałowe (GSR), cząstki metaliczne, Elektronowa mikroskopia skaningowa sprzężona ze spektrometrią promieniowania rentgenowskiego (SEM-EDX).; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Cienkowarstwowe struktury tlenków metali przejściowych – wytwarzanie oraz ich charakterystyka
Transition metal oxides thin film structures - formation and characterisation
Autorzy:: Popek, Piotr
Słowa kluczowe:: reactive, RF, magnetron, sputtering, deposition, fabrication, titanium, (IV), oxide, dioxide, anatase, rutile, thin, film, annealing, atomic force microscopy, AFM, scanning electron microscopy, SEM, grazing incidence x-ray diffraction, GIXRD, XRD, low energy electron diffraction, LEED, local conductivity, LC-AFM, C-AFM, resistive switching, RS, memristor, memristance,; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Badania struktury cienkich warstw metalicznych metodami mikroskopii elektronowej oraz bliskich oddziaływań
Thin metallic film examination by electron and atomic force microscopy
Autorzy:: Popek, Piotr
Słowa kluczowe:: cienkie warstwy metaliczne, tytan, napylanie, rozpylanie magnetronowe, fizyczne osadzanie z fazy gazowej, plazma argonowa, skaningowa mikroskopia elektronowa, mikroskopia sił atomowych, kelwinowska mikroskopia potencjału powierzchniowego, PVD, SEM, AFM, EDX, KPFM
thin metallic film, titanium, magnetron sputtering, physical vapour deposition, argon plasma, scanning electron microscopy, atomic force microscopy, kelvin probe force microscopy, energy disspersive X-ray spectroscopy, PVD, SEM, AFM, EDX, KPFM; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Szczegóły

Informacja

Wyszukujesz frazę "scanning electron microscopy;" wg kryterium: Wszystkie pola