- Tytuł:
- On the extraction of threshold voltage, effective channel length and series resistance of MOSFETs
- Autorzy:
-
Ortiz-Conde, A.
Garcia Sánchez, F.J.
Liou, J.J. - Data publikacji:
- 2000
- Wydawca:
- Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy
- Tematy:
-
threshold voltage
channel length
series resistance
parameter extraction - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł