Temat: mikroskopia sil atomowych

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Charakteryzacja wiązania w układzie białko-lek metodą spektroskopii sił atomowych: wstępne wyniki.
Characterization of a protein-drug bond by means of atomic force spectroscopy: preliminary results
Autorzy:: Szczerbiński, Jacek
Słowa kluczowe:: -
oddziaływanie białko-lek, DL76, albumina, mikroskopia sił atomowych; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Microstructured biodegradable polymer layers
Mikrostrukturyzowane polimerowe powierzchnie biodegrodowalne
Autorzy:: Szydlak, Renata
Słowa kluczowe:: biodegradable polymers, contact angle, atomic force microscopy AFM
polimery biodegradowalne, kąt zwilżania, mikroskopia sił atomowych AFM; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Badanie cienkich warstw grafitu otrzymanych metodą eksfoliacji
Study of thin graphite layers obtained by exfoliation method
Autorzy:: Bodek, Łukasz
Słowa kluczowe:: grafit, grafen, AFM, eksfoliacja, AFM, mikroskopia sił atomowych
graphite, graphene, AFM, atomic force microscopy, AFM, exfoliation method; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Analiza powierzchniowa nanowarstw dla zastosowań biomedycznych
Surface analysis of nanolayers for biomedical applications
Autorzy:: Bajor, Adrianna
Słowa kluczowe:: immobilizacja molekuł, mikropęcherzyki płytkowe, mikroskopia sił atomowych AFM, elipsometria
molecules immobilization, platelet-derived microparticles, atomic force microscopy AFM, elipsometry; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Obrazowanie i spektroskopia sił komórek śródbłonka zatok wątroby
Imaging and force spectroscopy of liver sinusoidal endothelial cells
Autorzy:: Czarnik, Oliwia
Słowa kluczowe:: atomic force microscopy, AFM, liver sinusoidal endothelial cells, elasticity parameter
mikroskopia sił atomowych, AFM, komórki śródbłonka zatok wątroby, parametr elastyczności; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Charakterystyka cienkich filmów polimerowych metodą mikroskopii sił atomowych
Characterization of thin polymer films by atomic force microscopy.
Autorzy:: Świerz, Wojciech
Słowa kluczowe:: Mikroskopia sił atomowych AFM, szczotki polimerowe czułe na pH, PDMAEMA, P3MP
Atomic force microscopy, pH-sensitive polymer brushes, PDMAEMA, P3MP; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Influence of projectile chemistry on the sputtering process of the model polymer thin film
Wpływ chemii pocisku na proces rozpylania modelowej warstwy polimerowej
Autorzy:: Sęk, Katarzyna
Słowa kluczowe:: spektrometria mas jonów wtórnych, SIMS, mikroskopia sił atomowych, AFM, nanotechnologia, rozpylanie jonowe, rozpylanie cienkich warstw, polimery
secondary ion mass spectrometry, SIMS, atomic force microscopy, AFM, nanotechnology, ion sputtering, sputtering of thin films, polymers; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Engineering thin polymer films surface using silanes
Inżynieria powierzchni cienkich warstw polimerowych z wykorzystaniem silanów
Autorzy:: Pięta, Łukasz
Słowa kluczowe:: Thin polymer films; Surface free energy; PEDOT:PSS; Atomic force microscopy; Contact angle; Secondary ion mass spectrometry; Spin-coating
Cienkie warstwy polimerowe; Swobodna energia powierzchniowa; PEDOT:PSS; Mikroskopia sił atomowych; Kąt zwilżania; Spektrometria mas jonów wtórnych; Spin-coating; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Spektroskopia ramanowska warstw molekularnych z wykorzystaniem nanostruktur powierzchniowych
Surface nanostructers based Raman spectroscopy on molecular layers
Autorzy:: Kabała, Dawid
Słowa kluczowe:: tip enhanced Raman spectroscopy (TERS), micro-Raman Spectroscopy, self-assembled monolayers (SAM), azobenzene –containing thiol derivatives, atomic force microscopy (AFM)
tip enhanced Raman spectroscopy (TERS), Spektroskopia mikro-ramanowska, self-assembled monolayers (SAM), pochodne tioli zwierające azobenzen , mikroskopia sił atomowych (AFM); Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Morphology of the active layers of organic solar cells created by h-dipping
Morfologia warstw aktywnych organicznych ogniw słonecznych tworzonych metodą rozciągania roztworu
Autorzy:: Augustowski, Dariusz
Słowa kluczowe:: active layer, organic solar cell, spin coating, spin casting, horizontal dipping, h-dipping, atomic force microscope, AFM, SIMS, secondary ion mass spectrometry, morphology
warstwa aktywna, organiczne ogniwo słoneczne, spin coating, spin casting, horizontal dipping, h-dipping, mikroskopia sił atomowych, AFM, SIMS, spektrometria mas jonów wtórnych, morfologia; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Szczegóły

Informacja

Wyszukujesz frazę "mikroskopia sil atomowych" wg kryterium: Temat