Temat: X-RAY DIFFRACTION - Prolib Integro

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Badanie monokryształów tlenkowych za pomocą synchrotronowej i konwencjonalnej rentgenowskiej topografii dyfrakcyjnej
Investigation of oxide crystals by means of synchrotron and conventional X-raydiffraction topography Wojciech Wierzchowski, Agnieszka Malinowska, Krzysztof Wieteska, Edyta Wierzbicka, Krystyna Mazur, Maria Lefeld - Sosnowska, Marek Świrkowicz, Tadeusz Łukasiewicz.
Autorzy:: Wierzchowski Wojciech
Współwytwórcy:: Mazur Krystyna
Łukasiewicz Tadeusz
Lefeld - Sosnowska Maria
Wierzbicka Edyta
Malinowska Agnieszka
Świrkowicz Marek
Wieteska Krzysztof
Data publikacji:: 2016
Wydawca:: ITME
Słowa kluczowe:: X-ray diffraction topography
defekty sieci krystalicznej
Czochralski method
crystal lattice defects
dyfrakcyjna topografia dyfrakcyjna
metoda Czochralskiego; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Electronic Materials T 43 Nr 1 2015
X-ray diffraction topography of lattice defects in MgAl2O4 and ScAlMgO4 crystals grown under different technological conditions
Rentgenowska topografia dyfrakcyjna defektów sieci krystalicznej w monokryształach MgAl2O4 i ScAlMgO4 otrzymywanych w różnych warunkach technologicznych
Materiały Elektroniczne T. 43 Nr 1
Autorzy:: Wierzbicka Edyta
Współwytwórcy:: Wierzchowski Wojciech
Mazur Krystyna
Romaniec Magdalena
Kisielewski Jarosław
Malinowska Agnieszka
Świrkowicz Marek
Szyrski Włodzimierz
Data publikacji:: 2015
Wydawca:: ITME
Słowa kluczowe:: X-ray diffraction topography
Czochralski method
MgAl2O4
crystal lattice defects
ScAlMgO4
topografia rentgenowska; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Rentgenodyfrakcyjna analiza odkształceń koherentnych w półprzewodnikowych strukturach warstwach AIIIBV. Praca doktorska
Prace doktorskie
Rentgenodyfrakcyjna analiza odkształceń koherentnych w półprzewodnikowych strukturach warstwach AIIIBV. praca doktorska = X-ray diffractiometric analysis of coherence deformation in AIIIBV semiconductor layered structures
Autorzy:: Sass Jerzy
Współwytwórcy:: Pajączkowska Anna. Promotor.
Data publikacji:: 1998
Wydawca:: ITME
Słowa kluczowe:: dyfrakcja rentgenowska
warstwa epitaksjalna
Elektronika - materiały
epitaxial layer
misfitdislocation
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
AIIIBV
x-ray diffraction
dyslokacja niedopadowania; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Materiały Elektroniczne 1992 T.20 nr 3
Numeryczne metody rozpłatania rentgenowskiego widma dyfrakcyjnego. Zastosowanie do badania supersieci półprzewodnikowych = The numerical x-ray peaks refinements applied to the semiconductor superlattice spectra
Numeryczne metody rozpłatania rentgenowskiego widma dyfrakcyjnego. Zastosowanie do badania supersieci półprzewodnikowych
Autorzy:: Gaca Jarosław
Współwytwórcy:: Sass Jerzy
Wójcik Marek
Data publikacji:: 1992
Wydawca:: ITME
Słowa kluczowe:: supersieć półprzewodnikowa
Materiały elektroniczne
Electronic - materials
rentgenowskie widmo dyfrakcyjne
semiconductor spectra
Electronic - journal - materials
x-ray diffraction spectra
Elektronika - czasopismo - materiały; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Materiały Elektroniczne 2000 T.28 nr 3
Rozwinięcie i zastosowanie darwinowskiej teorii dyfrakcji promieni rentgenowskich do określania struktury i składu chemicznego kryształów wielowarstwowych
Rozwinięcie i zastosowanie darwinowskiej teorii dyfrakcji promieni rentgenowskich do określania struktury i składu chemicznego kryształów wielowarstwowych = Development and application of Darwin x-ray diffraction theory for structure and chemical composition determination in multilayered crystals
Autorzy:: Wójcik Marek
Współwytwórcy:: Gaca Jartosław
Turos Andrzej
Strupiński Włodzimierz
Data publikacji:: 2000
Wydawca:: ITME
Słowa kluczowe:: Elektronika - czasopismo - materiały
multilayered crystal
Electronic - journal - materials
kryształ wielowarstwowy
skład chemiczny
chemical composition
dyfrakcja rentgenowska
Materiały elektroniczne
Electronic - materials
x-ray diffraction; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Otrzymywanie warstw SiCN metoda RF sputteringu
Materiały Elektroniczne 2011 T.39 nr 2
Otrzymywanie warstw SiCN metoda RF sputteringu = SiCN films deposited by RF magnetron sputtering
Autorzy:: Stańczyk Beata
Data publikacji:: 2011
Wydawca:: ITME
Słowa kluczowe:: RF sputtering
SIMS
widmo podczerwieni
dyfrakcja rentgenowska
Elektronika - czasopismo - materiały
widmo optycznej absorpcji
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
Electronic - journal - materials
sputtering
SiCN
x-ray diffraction
IR spectrum
absorption spectrum; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Investigation of the defect structure in the new types of undoped and Pr-doped scintillator single crystals of mixed lutetium-yttrium-aluminum garnets [LuxY1-x]Al5O12 (LuYAG)
Badanie struktury defektowej w nowych rodzajach scyntylacyjnych monokryształów mieszanych granatów lutetowo-itrowo-glinowych [LuxY1-x]Al5O12 (LuYAG) niedomieszkowanych oraz aktywowanych prazeodymem
Electronic Materials T. 43 Nr 1 2015
Materiały Elektroniczne T. 43 Nr 1
Autorzy:: Malinowska Agnieszka
Współwytwórcy:: Wierzchowski Wojciech
Mazur Krystyna
Romaniec Magdalena
Drozdowski Winicjusz
Romaniec, Magdalena
Kisielewski Jarosław
Wierzbicka Edyta
Świrkowicz Marek
Szyrski Włodzimierz
Data publikacji:: 2015
Wydawca:: ITME
Słowa kluczowe:: X-ray diffraction topography
defekty sieci krystalicznej
Czochralski method
crystal lattice defects
metoda Czochralskiego
mieszane granaty lutetowo-itrowo-glinowe
materiały scyntylacyjne
mixed lutetium-yttium-aluminum garnets
dyfrakcyjna topografia rentgenowska
scintillator crystals; Pokaż więcej
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Informacja