- Tytuł:
- Analiza elektrycznych własności struktur MIS na bazie GaAs orazSi w oparciu o metodę spektroskopii impedanacyjnej
- Autorzy:
-
Kochowski, S.
Szydłowski, M. - Data publikacji:
- 2004
- Słowa kluczowe:
-
Au/Pd/Ti-SiO2-GaAs
Al-SiO2-Si
półprzewodniki typu p
struktury MIS
p-type semiconductors
MIS structure - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł