- Tytuł:
- Investigation of the topography of magnetron-deposited Cu/Ni multilayers by X-ray reflectometry and atomic force microscopy
- Autorzy:
-
Kucharska, B.
Kulej, E.
Kanak, J. - Data publikacji:
- 2009
- Słowa kluczowe:
-
multilayers Cu/Ni
X-ray reflectometry (XRR)
atomic force microscopy (AFM)
roughness - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech
Artykuł