Temat: systemy wbudowane - Prolib Integro

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Gas-flow computer with SBST
Autorzy:: Mosdorf, M.
Grochowski, K.
Sosnowski, J.
Gawkowski, P.
Data publikacji:: 2012
Słowa kluczowe:: systemy wbudowane
mikrokontrolery
symulacja błędów
niezawodność
embedded system
microcontrollers
fault simulation
reliability; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Symulacja błędów przemijających w mikrokontrolerze satelitarnym
Autorzy:: Iwiński, M.
Sosnowski, J.
Data publikacji:: 2011
Słowa kluczowe:: systemy wbudowane
mikrokontrolery
symulacja błędów
niezawodność
embedded system
microcontrollers
fault simulation
reliability; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Praktyczne nauczanie systemów wbudowanych z wykorzystaniem platformy Arduino
Autorzy:: Rabczuk, D.
Data publikacji:: 2015
Słowa kluczowe:: systemy wbudowane
mikrokontrolery
programowanie
język C/C++
embedded system
microcontrollers
programming
C/C++ languages; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Przegląd rozwiązań stanowisk laboratoryjnych stosowanych podczas nauki zdalnej
Autorzy:: Raczyński, Michał
Biedka, Andrzej
Data publikacji:: 2023
Słowa kluczowe:: nauka zdalna
układy elektroniczne
systemy wbudowane
mikrokontrolery
remote teaching
electronic circuits
embedded systems
microcontrollers; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Wykorzystanie logiki rozmytej do diagnostyki uszkodzeń części analogowych w elektronicznych systemach wbudowanych
Autorzy:: Czaja, Z.
Załęski, D.
Data publikacji:: 2007
Słowa kluczowe:: diagnostyka uszkodzeń
BIST
logika rozmyta
mikrokontrolery
elektroniczne systemy wbudowane
fault diagnosis
fuzzy logic
microcontrollers
electronic embedded systems; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Diagnostyka uszkodzeń analogowych we wbudowanych systemach elektronicznych z wykorzystaniem interpretera logiki rozmytej
Autorzy:: Czaja, Z.
Załęski, D.
Data publikacji:: 2007
Słowa kluczowe:: detekcja uszkodzeń
lokalizacja uszkodzeń
samotestowanie
BIST
elektroniczne systemy wbudowane
mikrokontrolery
fault detection and localisation
self-testing
electronic embedded systems
microcontrollers; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Lokalizacja uszkodzeń w częściach analogowych wbudowanych systemów elektronicznych z uwzględnieniem tolerancji elementów
Autorzy:: Czaja, Z.
Data publikacji:: 2007
Słowa kluczowe:: detekcja uszkodzeń
lokalizacja uszkodzeń
samotestowanie
BIST
elektroniczne systemy wbudowane
mikrokontrolery
fault detection and localization
self-testing
electronic embedded systems
microcontrollers; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Nowe zastosowania sygnałów komplementarnych o projektowanych kształtach do testowania elektronicznych systemów wbudowanych
Autorzy:: Załęski, D.
Bartosiński, B.
Zielonko, R.
Data publikacji:: 2007
Słowa kluczowe:: testowanie
elektroniczne systemy wbudowane
sygnały komplementarne
projektowanie kształtu sygnału
mikrokontrolery
testing
electronic embedded systems
complementary signals
shape design of signals
microcontrollers; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Remote programming and reconfiguration system for embedded devices
Autorzy:: Michalec, Tomasz
Wojczuk, Maksymilian
Brzoza-Woch, Robert
Szydło, Tomasz
Data publikacji:: 2019
Słowa kluczowe:: embedded system
field programmable gate array
firmware
Internet of things
microcontrollers
protocols
wireless sensor networks
systemy wbudowane
układy FPG A
Internet przedmiotów
mikrokontrolery
protokoły
bezprzewodowe sieci czujników; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Informacja