Temat: AFM - Prolib Integro

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "AFM" wg kryterium: Temat

Wyświetlanie 1-10 z 55

Zaznacz

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Mikroskopia Sił Atomowych (AFM)
Autorzy:: Kruk, T.
Data publikacji:: 2013
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
AFM
mikroskop AFM
atomic force microscopy (AFM)
AFM microscope; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: A Comparison between Contact and Tapping AFM Mode in Surface Morphology Studies
Autorzy:: Bramowicz, M.
Kulesza, S.
Rychlik, K.
Data publikacji:: 2012
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
AFM
topografia powierzchni
atomic force microscopy (AFM)
surface topography; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Development of a hybrid Atomic Force microscope and Optical Tweezers apparatus
Autorzy:: Zembrzycki, K.
Pawłowska, S.
Nakielski, P.
Pierini, F.
Data publikacji:: 2016
Słowa kluczowe:: optical tweezers
atomic force microscopy (AFM)
AFM/OT
mikroskopia sił atomowych
szczypce optyczne; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Wejściowe układy elektroniczne współpracujące z mikrosystemowymi piezoelektrycznymi czujnikami nanosił i nanowychyleń
Autorzy:: Woszczyna, M.
Masalska, A.
Kolanek, K.
Gotszalk, T.
Szeloch, R.
Data publikacji:: 2005
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
rezonator piezoelektryczny
AFM
tuning fork; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Makroskopowy model mikroskopu sił atomowych w zaawansowanej pracowni fizycznej
Autorzy:: Greczyło, T.
Dębowska, E.
Data publikacji:: 2007
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
pracownia fizyczna
atomic force microscopy (AFM)
physics laboratory; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Analiza powierzchni z wykorzystaniem mikroskopu sił atomowych
Autorzy:: Ziębowicz, B.
Staszuk, M.
Jarka, P.
Data publikacji:: 2018
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
AFM
analiza powierzchni
atomic force microscopy
surface analysis; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Mikroskopia bliskiego pola Shear Force/sił atomowych z interpretacją wyników poddanych transformacie FFT
Autorzy:: Sikora, A.
Gotszalk, T.
Szeloch, R. F.
Serafińczuk, J.
Jóźwiak, G.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: mikroskopia Shear Force
mikroskopia sił atomowych
mikroskopia bliskiego pola
AFM
analiza powierzchni
transformata Fouriera
shear force microscopy
atomic force microscopy (AFM)
surface analysis
Fourier transforms; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Modularny mikroskop tunelowy i sił atomowych do badań własności elektrycznych nanostruktur
Autorzy:: Sikora, A.
Gotszalk, T.
Szeloch, R.
Radojewski, J.
Sankowska, A.
Data publikacji:: 2003
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
AFM
diagnostyka powierzchni
shear force microscopy
current emission; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Ocena parametrów metrologicznych mikromechanicznych dźwigni piezorezystywnych
Autorzy:: Woszczyna, M.
Janus, P.
Grabiec, P.
Kolek, A.
Gotszalk, T.
Rangelow, I. W.
Data publikacji:: 2008
Słowa kluczowe:: dźwignia piezorezystywna
mikroskopia sił atomowych
nanotechnologia
piezoresistive cantilever
atomic force microscopy (AFM)
nanotechnology; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Mikroskopia sił atomowych z zastosowaniem matryc mikrodźwigni sprężystych
Autorzy:: Zawierucha, P.
Zielony, M.
Kopiec, D.
Woszczyna, M.
Sarov, Y.
Frank, A.
Ivanov, T.
Zöllner, J. P.
Rangelow, I. W.
Gotszalk, T.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: mikroskopia sił atomowych
matryca dźwigni
topografia
atomic force microscopy (AFM)
cantilever array
topography; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Wyświetlanie 1-10 z 55

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Wyszukujesz frazę "AFM" wg kryterium: Temat