- Tytuł:
- Mikroskopia bliskiego pola Shear Force/sił atomowych z interpretacją wyników poddanych transformacie FFT
- Autorzy:
-
Sikora, A.
Gotszalk, T.
Szeloch, R. F.
Serafińczuk, J.
Jóźwiak, G. - Data publikacji:
- 2008
- Słowa kluczowe:
-
mikroskopia Shear Force
mikroskopia sił atomowych
mikroskopia bliskiego pola
AFM
analiza powierzchni
transformata Fouriera
shear force microscopy
atomic force microscopy (AFM)
surface analysis
Fourier transforms - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech