- Tytuł:
- Analiza profilowa SIMS półprzewodnikowych struktur laserowych
- Autorzy:
-
Ćwil, M.
Konarski, P. - Data publikacji:
- 2005
- Słowa kluczowe:
-
spektrometria mas jonów wtórnych (SIMS)
analiza profilowa
nanostruktury warstwowe
secondary ion mass spectrometry (SIMS)
depth profile anaIysis
nanostructures - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech