Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Biblioteka  Akademii Nauk Stosowanych w Gnieźnie Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaBiblioteka  Akademii Nauk Stosowanych w Gnieźnie

Wyszukujesz frazę "metoda SIMS" wg kryterium: Wszystkie pola

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-2 z 2
    Tytuł:
    Otrzymywanie warstw SiCN metoda RF sputteringu
    Materiały Elektroniczne 2011 T.39 nr 2
    Otrzymywanie warstw SiCN metoda RF sputteringu = SiCN films deposited by RF magnetron sputtering
    Autorzy:
    Stańczyk Beata
    Data publikacji:
    2011
    Wydawca:
    ITME
    Słowa kluczowe:
    RF sputtering
    SIMS
    widmo podczerwieni
    dyfrakcja rentgenowska
    Elektronika - czasopismo - materiały
    widmo optycznej absorpcji
    Electronic - materials
    Materiały elektroniczne
    Electronic - journal - materials
    sputtering
    SiCN
    x-ray diffraction
    IR spectrum
    absorption spectrum
    Pokaż więcej
    Dostawca treści:
    RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
    Książka
    Szczegóły
      Wyświetlanie 1-2 z 2

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies