Wszystkie pola: Elipsometria - Prolib Integro

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Elipsometria" wg kryterium: Wszystkie pola

Wyświetlanie 1-3 z 3

Zaznacz

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Elipsometryczna metoda określania naprężeń w strukturach MOS
Autorzy:: Rzodkiewicz, W.
Data publikacji:: 2011
Słowa kluczowe:: naprężenia
struktura MOS
elipsometria spektroskopowa
pochodne ułamkowe
spectroscopic ellipsometry
fractional-derivative-spectrum
van Hove singularities
stress; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Pomiary naprężeń w strukturach MOS metod interferencyjną i za pomocą elipsometrii spektroskopowej
Autorzy:: Borowicz, L. K.
Borowicz, P.
Rzodkiewicz, W.
Piskorski, K.
Data publikacji:: 2007
Słowa kluczowe:: struktury MOS
naprężenie
interferometria
elipsometria
parametry elektryczne
Metal Oxide Semiconductor
MOS structures
stress
interferometry
ellipsometry
electrical parameters; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Spectroscopic ellipsometry studies of elastic and non-elastic strains in Si-SiO2 systems
Autorzy:: Rzodkiewicz, W.
Panas, A.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: elipsometria spektroskopowa
układ Si-SiO2
naprężenie
gęstość
współczynnik załamania
spectroscopic ellipsometry
Si-SiO2
stress
density
refractive index; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Wyświetlanie 1-3 z 3

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies