- Tytuł:
- Systemy do testowania mikroprocesorowych urządzeń pomiarowych
- Autorzy:
-
Mróz, P.
Urbański, K.
Olencki, A. - Data publikacji:
- 2009
- Słowa kluczowe:
-
testowanie
system testujący
urządzenie pomiarowe
testing
testing systems
measuring device - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- BazTech