- Tytuł:
-
Materiały Elektroniczne 1976 nr 4(16)
Krzemowe warstwy epitaksjalne o grubości powyżej 20 um = Silicon epitaxial layers of thickness above 20 um
Krzemowe warstwy epitaksjalne o grubości powyżej 20 um - Autorzy:
- Nossarzewska-Orłowska Elżbieta
- Współwytwórcy:
- Lachowski Andrzej
- Data publikacji:
- 1976
- Wydawca:
- Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
- Słowa kluczowe:
-
Si
warstwa epitaksjalna
Grubość warstwy
Elektronika - czasopismo - materiały
Electronic - materials
Materiały elektroniczne
silicon epitaxial layer
layer thickness
Electronic - journal - material - Pokaż więcej
- Dostawca treści:
- RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych