Temat: microscope, - Prolib Integro

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Hardware and software correction method of piezo scanner nonlinearity in scanning microscope
Autorzy:: Pawłowski, S.
Majcher, A.
Mrozek, M.
Data publikacji:: 2013
Słowa kluczowe:: scanning microscope
piezo scanner
piezo scanner nonlinearity correction
mikroskop skaningowy
piezoskaner
korekcja nieliniowości piezoskanera; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Konstrukcja mikroskopu sił atomowych z układem obrazowania wykorzystującym składowe harmoniczne
Autorzy:: Pawłowski, S.
Majcher, A.
Zbrowski, A.
Mrozek, M.
Data publikacji:: 2014
Słowa kluczowe:: mikroskop sił atomowych
parametr pomiarowy
obrazowanie obiektów
atomic force microscope
measurement parameters
objects imaging; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Hardware and software correction method of piezo scanner nonlinearity in scanning microscope
Sprzętowo-programowa metoda korekcji nieliniowości piezoskanera w mikroskopie skaningowym
Autorzy:: Pawłowski, S.
Majcher, A.
Mrozek, M.
Data publikacji:: 2013
Wydawca:: Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Eksploatacji - Państwowy Instytut Badawczy
Tematy:: scanning microscope
piezo scanner
piezo scanner nonlinearity correction
mikroskop skaningowy
piezoskaner
korekcja nieliniowości piezoskanera; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Mikroskop STM/AFM do zastosowań badawczych w zaawansowanych technologiach w przemyśle oraz w dydaktyce szkół wyższych
STM/AFM microscope for application in industrial advanced technologies and the high schools education
Autorzy:: Majcher, A.
Mrozek, M.
Zbrowski, A.
Olejniczak, W.
Pawłowski, S.
Piskorski, M.
Data publikacji:: 2011
Wydawca:: Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Eksploatacji - Państwowy Instytut Badawczy
Tematy:: mikroskop STM/AFM
magistrala VME
konstrukcja modułowa
microscope STM/AFM
VME bus
modular construction; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Mikroskop STM/AFM do zastosowań badawczych w zaawansowanych technologiach w przemyśle oraz w dydaktyce szkół wyższych
Autorzy:: Majcher, A.
Mrozek, M.
Zbrowski, A.
Olejniczak, W.
Pawłowski, S.
Piskorski, M.
Data publikacji:: 2011
Słowa kluczowe:: mikroskop STM/AFM
magistrala VME
konstrukcja modułowa
microscope STM/AFM
VME bus
modular construction; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Imaging system using higher-harmonic in the tapping mode of the ”Terra AFM” microscope
Autorzy:: Pawłowski, S.
Dobiński, G.
Smolny, M.
Majcher, A.
Mrozek, M.
Data publikacji:: 2015
Słowa kluczowe:: atomic force microscope
tapping mode
synchronous detection
phase imaging
mikroskop sił atomowych
tryb kontaktu przerywanego
detekcja synchroniczna
obrazowanie fazowe; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Imaging system using higher-harmonic in the tapping mode of the ”Terra AFM” microscope
System obrazowania wykorzystujący wyższe harmoniczne w trybie kontaktu przerywanego mikroskopu „Terra AFM”
Autorzy:: Pawłowski, S.
Dobiński, G.
Smolny, M.
Majcher, A.
Mrozek, M.
Data publikacji:: 2015
Wydawca:: Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Eksploatacji - Państwowy Instytut Badawczy
Tematy:: atomic force microscope
tapping mode
synchronous detection
phase imaging
mikroskop sił atomowych
tryb kontaktu przerywanego
detekcja synchroniczna
obrazowanie fazowe; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Informacja