Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Biblioteka  Akademii Nauk Stosowanych w Gnieźnie Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaBiblioteka  Akademii Nauk Stosowanych w Gnieźnie

Wyszukujesz frazę "scanning potential microscopy" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-2 z 2
    Tytuł:
    Wykorzystanie zaawansowanych trybów mikroskopii sił atomowych w badaniach struktur i przyrządów półprzewodnikowych
    Autorzy:
    Szyszka, A.
    Macherzyński, W.
    Prażmowska, J.
    Wośko, M.
    Stafiniak, A.
    Gryglewicz, J.
    Ramiączek-Krasowska, M.
    Paszkiewicz, B.
    Jankowski, B.
    Ściana, B.
    Paszkiewicz, R.
    Tłaczała, M.
    Data publikacji:
    2012
    Słowa kluczowe:
    skaningowa mikroskopia potencjału powierzchniowego
    skaningowa mikroskopia rezystancji rozproszonej
    obrazowanie fazowe
    azotek galu
    arsenek galu
    Scanning Surface Potential Microscopy
    Scanning Spreading Resistance Microscopy
    phase imaging
    gallium nitride
    gallium arsenide
    Pokaż więcej
    Dostawca treści:
    BazTech
    Artykuł
    Szczegóły
      Wyświetlanie 1-2 z 2

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies