Wszystkie pola: Piątkowska, A.

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Wpływ grubości warstwy DLC na właściwości tribologiczne w tarciu ślizgowym
The effect of the DLC layer thickness on the tribological properties in sliding friction
Autorzy:: Piątkowska, A.
Data publikacji:: 2012
Wydawca:: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:: warstwy DLC
tarcie ślizgowe
zużycie
FIB
DLC layers
sliding friction
wear; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Opis uszkodzeń warstwy DLC i podłoża Si w badaniach mikrotwardości z rejestracją sygnału EA
Autorzy:: Piątkowska, A.
Data publikacji:: 2009
Słowa kluczowe:: mikrotwardość
pop-in
emisja akustyczna
DLC
microindentation
acoustic emission; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Opis uszkodzeń warstwy DLC i podłoża Si w badaniach mikrotwardości z rejestracją sygnału EA
Description of damages of the DLC layer on the Si substrate with registration of AE signal
Autorzy:: Piątkowska, A.
Data publikacji:: 2009
Wydawca:: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:: mikrotwardość
pop-in
emisja akustyczna
DLC
microindentation
acoustic emission; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Wpływ grubości warstwy DLC na właściwości tribologiczne w tarciu ślizgowym
Autorzy:: Piątkowska, A.
Data publikacji:: 2012
Słowa kluczowe:: warstwy DLC
tarcie ślizgowe
zużycie
FIB
DLC layers
sliding friction
wear; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Własności cierne materiałów implantowanych jonowo
Autorzy:: Jagielski, J.
Piątkowska, A.
Data publikacji:: 2005
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Prezentacja głównego zakresu możliwości obrazowania i analizy za pomocą mikroskopu Auriga® Crossbeam® Workstation firmy Carl Zeiss znajdującego się w Instytucie Technologii Materiałów Elektronicznych w Warszawie
Autorzy:: Jóźwik, I.
Piątkowska, A.
Data publikacji:: 2009
Słowa kluczowe:: mikroskopia skaningowa; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Analysis Of AE-Signal Generated During The Microhardness Measurement
Analiza sygnału EA generowanego podczas pomiarów mikrotwardości
Autorzy:: Piątkowska, A.
Pokorska, I.
Data publikacji:: 2010
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Polskie Towarzystwo Diagnostyki Technicznej PAN
Tematy:: mikrotwardość
emisja akustyczna
warstwa Cr
microindentation
acoustic emission
Cr layer; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Prezentacja głównego zakresu możliwości obrazowania i analizy za pomocą mikroskopu Auriga® Crossbeam® Workstation firmy Carl Zeiss znajdującego się w Instytucie Technologii Materiałów Elektronicznych w Warszawie
Autorzy:: Jóźwik, I.
Piątkowska, A.
Data publikacji:: 2009
Wydawca:: Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Tematy:: mikroskopia skaningowa; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Classification of internal damages of the sample with a layer based on acoustic emission and microscopic observations
Klasyfikacja uszkodzeń wewnętrznych próbki z warstwą za pomocą metody emisji akustycznej i obserwacji mikroskopowych
Autorzy:: Piątkowska, A.
Kucharski, S.
Data publikacji:: 2012
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Polskie Towarzystwo Diagnostyki Technicznej PAN
Tematy:: emisja akustyczna
indentacja
pękanie
dekohezja
FIB
acoustic emission
indentation
cracks
decohesion; Pokaż więcej
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Analysis Of AE-Signal Generated During The Microhardness Measurement
Autorzy:: Piątkowska, A.
Pokorska, I.
Data publikacji:: 2010
Słowa kluczowe:: mikrotwardość
emisja akustyczna
warstwa Cr
microindentation
acoustic emission
Cr layer; Pokaż więcej
Dostawca treści:: BazTech

Artykuł

na półce

Szczegóły

Informacja

Wyszukujesz frazę "Piątkowska, A." wg kryterium: Wszystkie pola